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當前位置:首頁產品中心電力產品類DP-CH-1-ST臺式薄膜測厚儀/薄膜測厚儀//

臺式薄膜測厚儀/薄膜測厚儀//

產品簡介

測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜或薄片)。

產品型號:DP-CH-1-ST
更新時間:2016-10-15
廠商性質:生產廠家
訪問量:1361
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臺式薄膜測厚儀/薄膜測厚儀 型號:DP-CH-1-ST

測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜或薄片)。本測厚儀執行標準GB/T6672-2001標準。

主要參數
2.

測厚儀
 
 
 
商品名稱:涂層測厚儀/測厚儀
商品型號:DPT220
 

涂層測厚儀/測厚儀   型號:DPT220

【商品簡介】
  本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)
 可行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差行修正;
具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);
具有兩種作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除能:對測量中出現的單個可疑數據行刪除,也可刪除存貯區內的所有數據,以便行新的測量;
  設有五個統計量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV);
具有米、英制轉換能;
具有打印能,可打印測量值、統計值;
具有欠壓示能;
操作過程有蜂鳴聲提示;
具有錯誤提示能;
具有自動關機能。

測頭類型

F

測量原理

磁感應

測量范圍

0-1250um

低限分辨力

1µm(10um以下為0.1um)

探頭連接方式

體化

示值誤差

點校準(um)

±[3%H+1]

兩點校準(um)

±[(1~3)%H+1]

測量條件

zui小曲率半徑(mm)

凸 1.5 凹9

基體zui小面積的直徑(mm)

ф7

zui小臨界厚度(mm)

0.5

溫濕度

0~40℃ 
20%RH~90%RH

統計能

平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV)

作方式

直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

測量方式

連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)

上下限設置

存儲能力

15 個測量值

打印/連接計算機

可選配打印機/不能連接電腦

關機方式

自動

電源

二節3.6V鎳鎘電池

外形尺寸

150×55.5×23mm

重量

150g

基本配置:主機,標準片套(50um 100um 200um 500um 1000um),鐵基體,充電器.

www.51298264.com

 

 

 

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