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當前位置：首頁產品中心專用儀器儀表DP-XHCDSP數據采集分析系統 采集分析系統

數據采集分析系統 采集分析系統

產品簡介

采集模塊：采集方式分為手動采集、電壓信號觸發采集(含多次觸發采集能)、定時采集三種能。具有連續快速采集存盤能，做到邊采邊存入硬盤的不丟點的海量存儲能，采集時具有四種顯示模式

產品型號：DP-XHCDSP
更新時間：2016-10-01
廠商性質：生產廠家
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數據采集分析系統 采集分析系統 型號：DP-XHCDSP

數據采集器標：
　　①A/D轉換速度：200kHz
　?、跍y量通道：8、16、32
　?、跘/D轉換器度：16bits
　?、茌斎腚妷盒盘柗秶?～±10V（p～p）
　?、菽M輸入阻抗：100MΩ
　?、迌戎盟倬彌_存儲器（FIFO）：30K字節
　?、呔C合誤差：0.1%
　?、郩SB接口

 
　　DP-XHCDSP數據采集軟件可運行在Windows98、Me/2000、XP操作系統下，界面采用經典WINDOWS界面模式，并在PC電腦、筆記本電腦、控機均可安裝。采用C++語言編寫，采取的是節省存儲的原格式數據塊結構，配置有用戶自定義的ASCII文本數據格式行轉換的處理能，能生成文本文件，可被WORD、EXCEL調用。

1、采集模塊：采集方式分為手動采集、電壓信號觸發采集（含多次觸發采集能）、定時采集三種能。具有連續快速采集存盤能，做到邊采邊存入硬盤的不丟點的海量存儲能，采集時具有四種顯示模式，是可同時多窗體顯示電壓信號的實域波形；二是可同時多窗體顯示電壓信號修正為實際物理量值后的實域波形，應變測量時可實時顯示分析后的應力值及主應力方向；三是可實時顯示頻域波形；四是在每通道窗體內上顯示實域、下顯示頻域波形。界面zui多可顯示32個通道的波形，并可zui大化、zui小化、層疊、平鋪。
2、基本數學運算模塊：積分、均值積分、微分、正弦、余弦、正切、雙曲正弦、雙曲余弦、雙曲正切、反正弦、反余弦、反正切、常用對數、自然對數、數、平方根、冪、包絡分析。
3、基本頻譜分析模塊：正富氏變換、逆富氏變換、自率譜、互率譜、傳遞函數、相干函數、自相關、互相關、倒頻譜、細化富氏變換、zui大熵譜、階系統辨識、二階系統辨識。
4、數字信號生成模塊：生成規則波、生成拍波、生成掃頻波信號、生成雙音多頻信號、生成白噪聲。
5、應變應力分析模塊：單向應變應力計算，應變花主應力及方向計算（丁片、直角三角片、等腰三角片、傘形片、扇形片），長導線修正，K值修正、標定；靜態應變采集分析。
6、小波分析模塊：小波分析、小波去噪。
7、加窗計權能：矩形窗、三角窗、漢寧窗、海明窗、布萊克曼窗、凱塞窗、數窗、余弦窗。
8、其他具：消除數據趨勢、求相位差，瀑布圖、相位差譜、李薩育圖、數據平滑。
9、時域統計能：峰值、峰峰值、有效值、均值、平均值、波峰因數、波形因數、脈沖標、裕度標、峭度標。
10、信號濾波能：富氏帶通濾波、富氏帶阻濾波、FIR濾波、IIR濾波。
11、自動學習能：退出程序后，程路徑、名稱、通道與參數設置，界面顏色組合自動記憶，下次操作時即繼承zui近次設置。
12、數據平滑能。
13、回放能：分析窗長度分析步點數可意設置；自動回放可設置回放速度，做到快采慢放；也可手動控制度條行回放。既可波形回放，也可數據回放。

2.

射線/輻射檢測儀
 
 
 
商品名稱：反射率測定儀/反射率檢測儀/反射率測試儀
商品型號：DP-C84-Ⅲ
 

反射率測定儀/反射率檢測儀/反射率測試儀  型號：DP-C84-Ⅲ

反射率測定儀/反射率檢測儀/反射率測試儀 說明： 
     DP-C84-Ⅲ 反射率測定儀按GB/T 13452.3、GB/T 9270、GB/T 5211.17、ISO3906（E），主要用于建筑涂料涂膜遮蓋力的測定和反射率的測量。本儀器由探頭、主機、標準板（黑白各塊）。作陶瓷版（黑白各二塊）等組成。探頭采用0°照射、漫反射的原理。當試樣的反射光作用于硒光電池表面時產生電信號輸入直流放大器行放大，并予以讀數顯示。
反射率測定儀/反射率檢測儀/反射率測試儀主要參數：
  測量范圍：0～100
  輸入電源：220V，50Hz
  重復度：0.3%，示值誤差±1
  配置標準黑色陶瓷板和標準白色陶瓷板各塊
  訂購信息：
 DP-C84-Ⅲ 反射率測定儀
標準聚酯膜片（150mm×100mm×50µm；100片/包）
半黑半白卡紙  /  黑白格紙        

www.51298264.com

北京亞歐德鵬科有限公司

 

 

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